Produktinformationen "Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems"
| ISBN: | 9781475799590 |
|---|---|
| Verlag: | Springer US Springer US, New York, N.Y. |
| Sprache: | Englisch |
| Seitenzahl: | 332 |
| Produktart: | Kartoniert / Broschiert |
| Herausgeber: | Jain, V. K. Saucier, Gabriele Stapper, C. H. |
| Erscheinungsdatum: | 05.05.2013 |
| Verlag: | Springer US Springer US, New York, N.Y. |
| Untertitel: | Volume 2 |
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