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Zu "DfM" wurden 2 Produkte gefunden
Filter
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Verlag
Springer US (2)
Verlag
Springer US (2)
Produktart
Gebunden (1)
Kartoniert / Broschiert (1)
Autor
Sachdev, Manoj Pineda de Gyvez, José (2)
Schlagworte
CMOS (2)
defects (2)
DfM (2)
DSM (2)
integrated circuit (2)
logic (2)
RAM (2)
SRAM (2)
testing (2)
VLSI (2)
Erscheinungsdatum
2007 (1)
2010 (1)
Sprache
Englisch (2)
Erscheinungsdatum
Name A-Z
Name Z-A
Preis aufsteigend
Preis absteigend
Beste Ergebnisse
Topseller
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
ISBN: 9780387465463
213,99 €*
In den Warenkorb
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
ISBN: 9781441942852
213,99 €*
In den Warenkorb
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