Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
Produktinformationen "Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits"
Autor: | Bhuvaneswari, M. C. Jayanthy, S. |
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ISBN: | 9789811324925 |
Verlag: | Springer Malaysia Representative Office Springer Nature Singapore |
Auflage: | 001 |
Sprache: | Englisch |
Seitenzahl: | 168 |
Produktart: | Gebunden |
Erscheinungsdatum: | 10.10.2018 |
Verlag: | Springer Malaysia Representative Office Springer Nature Singapore |
Schlagworte: | Algorithmus Computer / PC-Hardware Computer / PC-Hardware / Aufrüsten, Reparieren, Selbstbau Computerhardware Crosstalkdelayfaults; verylargescaleintegration; DeterministicAlgorithms; geneticalgorithm; FuzzyDelayModel Datenverarbeitung / Rechneraufbau, Rechnerstrukturen Elektronik / Schaltung Informatik Rechnerarchitektur und Logik-Entwurf Schaltung - Grundschaltung Standardschaltung |